電路板邏輯掃描探測儀

IST5700D是由美國IST公司開發(fā)研制的一種小型邏輯在線測試儀，由于該設(shè)備體積小、功能
強、價格較低，不需要任何附加的軟件及專業(yè)培訓就可以掌握使用特點，因此對一些小型維
修網(wǎng)點和檢測站的維修排障和調(diào)試特別適用。
性能特點：“參考板”和“被測板”，的數(shù)據(jù)自動逐點比較功能。  
zui多具有4個獨立輸入端口，每個端口可檢測80通道，通過插接不同的測試夾，可對DIP，
PLCC,SO和SOJ封裝形式的器件進行檢測。
內(nèi)置通用邏輯狀態(tài)指示器，外接通用邏輯脈沖發(fā)生器/探頭，自動調(diào)節(jié)量程的3位半數(shù)字電壓
表（DVM），均可對被測管腳的邏輯狀態(tài)進行指示，并可通過顯示屏顯示電壓值。
低失真，高帶寬的模擬緩沖器，可將被測管腳的信號通過接口接到示波器或其它測試設(shè)備
上。便于更加仔細的觀察波形，顯示測量結(jié)果，幫助維修人員快速分析故障點。
備有后備電池的CMOS RAM，可以存儲由用戶編制的測試點探測順序的程序編制，存儲和調(diào)出
都非常容易。
借助脈沖存儲器捕捉連續(xù)的時鐘脈沖行測試，也能單純傳輸信號，進行非實的管腳處自動停
下或報警，比傳統(tǒng)的邏輯探測或示波器探更加快捷可靠。
應(yīng)用：它具有強大的比較功能，可針對被測板和標準板選擇實時或非實時的比較，通過變換
不同管腳數(shù)的測試夾，對兩塊板子上的同種芯片快速測試，也可用邏輯脈沖發(fā)生器/探頭逐
點測試。
另外，它可以針對基于微處理器的系統(tǒng)板進行測試。用戶只要把被測板與標準板的CPU時鐘
和復(fù)位線互連在—起，使兩板同步，就可按照對普通板測試的步驟進行。在兩相同板上使用
相同的EPROM診斷，能更好的幫助整板測試。
由于以上優(yōu)點，它廣泛應(yīng)用在電子測試測量，電子維修保養(yǎng)，檢驗等領(lǐng)域，大大提高檢測的
準確性及效率，達到了事半功倍的效果。因此，受到了越來越多的專業(yè)與非專業(yè)人士的青
睞。愿它也成為您的好幫手。

參數(shù)
規(guī)范
夾具探頭 
輸入阻抗 通道“ON” -1兆歐
通道“ OFF”-90兆歐
過載保護 +/15V 連續(xù) +/18V 2分鐘
（測試儀必須在電源閉合狀態(tài)下）
輸出端口 zui大輸出電流：+80mA -45mA
zui大輸出電壓擺幅： +15.5V 9.5V
輸入zui小脈寬：帶地線夾 -50nS
W/O地線夾-75nS
zui大頻率響應(yīng)：20MH2
可探測zui小三態(tài)脈寬 TTL -1us
CMOS-10us
 
手持邏輯筆 
輸入阻抗： 兆歐
輸入過載保護： +/-150VDC，+/-75VAC
zui大頻率響應(yīng)： 20MH2
輸入zui小脈寬 75nS（帶小型地線夾）
脈沖模式： 每按一次鍵產(chǎn)生一個脈沖
脈沖發(fā)生器阻抗： 在活動狀態(tài)時為2歐姆
關(guān)斷狀態(tài)下為 1.5兆歐
脈沖發(fā)生器短路保護：連續(xù)
脈沖發(fā)生器過載保護： +/-75V DC連續(xù)
+/-125V DC一分鐘
實時比較延遲： 范圍1-200 nS,+/-10％
范圍 2-1000ns,+/-10％
系統(tǒng)參數(shù) 
重量：凈重 5.5公斤總重8公斤
尺寸： 11.4 X 43.7 X 30cm
溫度： 0—55℃
電壓： 115VAC或220VAC+1-10％
50—60HZ
功耗： 30W
 
型號
IST5700DⅡ 
IST5700D Ⅳ 
通道
40 X 2路通道
40 X 4路通道
選件
40通道測試探頭
價格
37,800
43,000
產(chǎn)地
美國 IST